Основы сканирующей зондовой микроскопии
Миронов В. Л.
От издательства:Книга представляет собой учебное пособие для студентов старших курсов высших учебных заведений, посвящённое одному из самых современных методов исследования поверхности твёрдого тела ― сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ). В книге рассматриваются основные виды СЗМ, нашедшие наиболее широкое применение в научных исследованиях: сканирующая туннельная микроскопия (СТМ), атомно-силовая микроскопия (АСМ), электросиловая микроскопия (ЭСМ), магнитно-силовая микроскопия (МСМ), ближнепольная оптическая микроскопия (БОМ).
ปี:
2004
สำนักพิมพ์:
РАН, Институт физики микроструктур
ภาษา:
russian
จำนวนหน้า:
114
ไฟล์:
PDF, 3.45 MB
IPFS:
,
russian, 2004
Litres
ต้องการเพิ่มร้านหนังสือ? ติดต่อเราได้ที่ support@z-lib.do
สามารถแปลงไฟล์ได้
ผลการค้นหาเพิ่มเติม
สิทธิประโยชน์อื่นๆ 
คำที่ถูกค้นหาบ่อยที่สุด
บุ๊กลิสต์ที่เกี่ยวข้อง
